FOCUSING AND DIFFRACTION EFFECTS IN ANGLE-RESOLVED X-RAY PHOTOELECTRON-SPECTROSCOPY

被引：180

作者：

POON, HC ^{[1
]}

TONG, SY ^{[1
]}

机构：

[1] UNIV WISCONSIN,DEPT PHYS,MILWAUKEE,WI 53201

来源：

PHYSICAL REVIEW B | 1984年 / 30卷 / 10期

关键词：

D O I：

10.1103/PhysRevB.30.6211

中图分类号：

T [工业技术];

学科分类号：

08 ;

摘要：

引用

页码：6211 / 6213

页数：3

共 4 条

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POON HC, UNPUB