SPIN-POLARIZED SCANNING ELECTRON-MICROSCOPE FOR MAGNETIC DOMAIN OBSERVATION

被引：13

作者：

KOIKE, K ^{[1
]}

MATSUYAMA, H ^{[1
]}

TODOKORO, H ^{[1
]}

HAYAKAWA, K ^{[1
]}

机构：

[1] HITACHI LTD,CENT RES LAB,KOKUBUNJI,TOKYO 185,JAPAN

来源：

JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS PART 2-LETTERS | 1985年 / 24卷 / 07期

关键词：

D O I：

10.1143/JJAP.24.L542

中图分类号：

O59 [应用物理学];

学科分类号：

摘要：

引用

页码：L542 / L544

页数：3

共 7 条

KOIKE, K ;

HAYAKAWA, K .

JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS PART 2-LETTERS, 1984, 23 (02) :L85-L87

KOIKE, K ;

HAYAKAWA, K .

[3] DOMAIN OBSERVATION WITH SPIN-POLARIZED SECONDARY ELECTRONS [J].

KOIKE, K ;

HAYAKAWA, K .

KOIKE, K ;

HAYAKAWA, K .

JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS PART 2-LETTERS, 1984, 23 (03) :L187-L188

PIERCE, DT ;

CELOTTA, RJ ;

UNGURIS, J ;

SIEGMANN, HC .

[6]

SAITO S, 1973, 31ST P ANN M EL MICR, P302

[7]

TODOKORO H, 1981, J ELECTRON MICROSC, V30, P107