THICK TARGET ELEMENTAL ANALYSIS OF ORGANIC AND INORGANIC MATERIALS BY PIXE USING THIN-FILM STANDARDS

被引：13

作者：

KAUFMANN, HC

STEENBLIK, J

机构：

来源：

NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN PHYSICS RESEARCH SECTION B-BEAM INTERACTIONS WITH MATERIALS AND ATOMS | 1984年 / 3卷 / 1-3期

关键词：

D O I：

10.1016/0168-583X(84)90362-8

中图分类号：

TH7 [仪器、仪表];

学科分类号：

0804 ; 080401 ; 081102 ;

摘要：

引用

收藏

页码：198 / 202

页数：5

相关论文

共 2 条

[1] QUANTITATIVE-ANALYSIS OF COMPLEX TARGETS BY PROTON-INDUCED X-RAYS [J].

REUTER, W ;

LURIO, A ;

CARDONE, F ;

ZIEGLER, JF .

JOURNAL OF APPLIED PHYSICS, 1975, 46 (07) :3194-3202

[2]

1982, QUALITY ASSURANCE DO