HIGH-PRECISION ORIENTATION OF CRYSTALS USING LAUE METHOD WITH CHARACTERISTIC X-RAYS

被引：11

作者：

CHRISTIANSEN, G ^{[1
]}

GERWARD, L ^{[1
]}

ALSTRUP, I ^{[1
]}

机构：

[1] TECH UNIV DENMARK,LAB APPL PHYS 3,BLDG 307,DK-2800 LYNGBY,DENMARK

来源：

ACTA CRYSTALLOGRAPHICA SECTION A | 1975年 / A 31卷 / JAN1期

关键词：

D O I：

10.1107/S0567739475000241

中图分类号：

O6 [化学];

学科分类号：

0703 ;

摘要：

引用

页码：142 / &

共 8 条

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