A COMPARISON OF TECHNIQUES FOR OBTAINING CONVERGENT BEAM ELECTRON-DIFFRACTION PATTERNS WITH A JEOL-200CX

被引：7

作者：

LEE, KC ^{[1
]}

机构：

[1] CORNELL UNIV,NATL RES & RESOURCE FACIL SUBMICRON STRUCT,ITHACA,NY 14853

来源：

关键词：

D O I：

10.1016/0304-3991(82)90041-9

中图分类号：

TH742 [显微镜];

学科分类号：

摘要：

引用

页码：217 / 222

页数：6

共 7 条

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