UBER DIE RICHTUNGSABHANGIGKEIT DER KRITISCHEN AMPLITUDE DER MIKROWELLENFELDSTARKE BEI NEBENRESONANZ UND SENKRECHTFELD

被引：8

作者：

HAUBENREISSER, W

LINZEN, D

机构：

来源：

PHYSICA STATUS SOLIDI | 1963年 / 3卷 / 01期

关键词：

D O I：

10.1002/pssb.19630030114

中图分类号：

O469 [凝聚态物理学];

学科分类号：

070205 ;

摘要：

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页码：133 / 139

页数：7

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