NEW RAPID AND ACCURATE METHOD TO MEASURE LOW-ENERGY-ELECTRON-DIFFRACTION BEAM INTENSITIES - INTENSITIES FROM CLEAN PT (111) CRYSTAL-FACE

被引：48

作者：

STAIR, PC

KAMINSKA, TJ

KESMODEL, LL

SOMORJAI, GA

机构：

[1] UNIV CALIF,DEPT CHEM,BERKELEY,CA 94720

[2] LAWRENCE BERKELEY LAB,INORG MAT RES DIV,BERKELEY,CA 94720

来源：

PHYSICAL REVIEW B | 1975年 / 11卷 / 02期

关键词：

D O I：

10.1103/PhysRevB.11.623

中图分类号：

T [工业技术];

学科分类号：

08 ;

摘要：

引用

页码：623 / 629

页数：7