ELECTRONIC EXCITATIONS IN MICROSTRUCTURED MOS - SYSTEMS

被引：8

作者：

HEITMANN, D ^{[1
]}

KOTTHAUS, JP ^{[1
]}

MACKENS, U ^{[1
]}

BEINVOGL, W ^{[1
]}

机构：

[1] SIEMENS AG,FORSCHUNGSLAB,D-8000 MUNICH 83,FED REP GER

来源：

关键词：

D O I：

10.1016/0749-6036(85)90025-4

中图分类号：

O469 [凝聚态物理学];

学科分类号：

070205 ;

摘要：

引用

页码：35 / 38

页数：4

共 6 条

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