PROFILE FITTING FOR QUANTITATIVE-ANALYSIS IN X-RAY-POWDER DIFFRACTION

被引：79

作者：

SCHREINER, WN ^{[1
]}

JENKINS, R ^{[1
]}

机构：

[1] PHILIPS ELECTR INSTRUMENTS,MAHWAH,NJ 07430

来源：

ADVANCES IN X-RAY ANALYSIS | 1983年 / 26卷

关键词：

D O I：

10.1154/S0376030800012404

中图分类号：

R8 [特种医学]; R445 [影像诊断学];

学科分类号：

1002 ; 100207 ; 1009 ;

摘要：

引用

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