DIRECT OBSERVATION OF TDS PROFILES FROM PERFECT SILICON SINGLE-CRYSTALS ON A NEUTRON DIFFRACTOMETER

被引:31
作者
GRAF, HA [1 ]
SCHNEIDER, JR [1 ]
FREUND, AK [1 ]
LEHMANN, MS [1 ]
机构
[1] INST MAX VON LAUE PAUL LANGEVIN,F-38042 GRENOBLE,FRANCE
来源
ACTA CRYSTALLOGRAPHICA SECTION A | 1981年 / 37卷 / NOV期
关键词
D O I
10.1107/S0567739481001885
中图分类号
O6 [化学];
学科分类号
0703 ;
摘要
引用
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页码:863 / 871
页数:9
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