PERMITTIVITY MEASUREMENTS AT SUBMILLIMETER WAVELENGTHS

被引：11

作者：

TAUB, JJ

HINDIN, HJ

机构：

来源：

REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS | 1963年 / 34卷 / 09期

关键词：

D O I：

10.1063/1.1718662

中图分类号：

TH7 [仪器、仪表];

学科分类号：

0804 ; 080401 ; 081102 ;

摘要：

引用

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页码：1056 / &

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共 5 条

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