ELECTRON-MICROPROBE ANALYZER FOR STUDY OF COMPOSITION OF TERMINATIONS OF CONDUCTING FILAMENTS IN M-I-M STRUCTURES

被引：10

作者：

RAKHSHANI, AE ^{[1
]}

HOGARTH, CA ^{[1
]}

机构：

[1] BRUNEL UNIV,DEPT PHYS,UXBRIDGE UB8 3PH,MIDDLESEX,ENGLAND

来源：

JOURNAL OF NON-CRYSTALLINE SOLIDS | 1976年 / 21卷 / 01期

关键词：

D O I：

10.1016/0022-3093(76)90101-0

中图分类号：

TQ174 [陶瓷工业]; TB3 [工程材料学];

学科分类号：

0805 ; 080502 ;

摘要：

引用

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页码：147 / 150

页数：4

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共 5 条

[1] ELECTRON-EMISSION AND RELATED PROPERTIES OF AMORPHOUS THIN-FILMS OF MIXED BARIUM AND SILICON OXIDES [J].

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