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APPLICATION OF A RESONANT TUNNELLING STRUCTURE TO DEMONSTRATE SUBSURFACE DAMAGE AND SURFACE MIGRATION ON INGAAS DURING AUGE CONTACT ANNEAL
被引：4
作者：
LAKHANI, AA
POTTER, RC
BEYEA, DM
机构：
关键词：
D O I：
10.1088/0268-1242/3/6/017
中图分类号：
TM [电工技术];
TN [电子技术、通信技术];
学科分类号：
0808 ;
0809 ;
摘要：
引用
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页码：605 / 607
页数：3
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