ON NECESSITY TO EXAMINE D-CHAINS IN DIAGNOSTIC TEST GENERATION - AN EXAMPLE

被引：24

作者：

SCHNEIDER, PR

机构：

来源：

IBM JOURNAL OF RESEARCH AND DEVELOPMENT | 1967年 / 11卷 / 01期

关键词：

D O I：

10.1147/rd.111.0114

中图分类号：

TP3 [计算技术、计算机技术];

学科分类号：

0812 ;

摘要：

引用

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页码：114 / +

页数：1

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[1] DIAGNOSIS OF AUTOMATA FAILURES - A CALCULUS AND A METHOD [J].

ROTH, JP .

IBM JOURNAL OF RESEARCH AND DEVELOPMENT, 1966, 10 (04) :278-&