APPLICATION OF A SOLID SAMPLING DEVICE TO THE ANALYSIS OF HIGH-TEMPERATURE ALLOYS BY ICP-AES

被引:33
作者
MARKS, JY
FORNWALT, DE
YUNGK, RE
机构
关键词
D O I
10.1016/0584-8547(83)80107-4
中图分类号
O433 [光谱学];
学科分类号
0703 ; 070302 ;
摘要
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