FIELD-ION IMAGING OF A TUNGSTEN SUPERTIP

被引：15

作者：

MILLER, T

KNOBLAUCH, A

WILBERTZ, C

KALBITZER, S

机构：

[1] Max-Planck-Institut für Kernphysik, Heidelberg, D-69029

来源：

APPLIED PHYSICS A-MATERIALS SCIENCE & PROCESSING | 1995年 / 61卷 / 01期

关键词：

61.16; 68.35;

D O I：

10.1007/BF01538219

中图分类号：

T [工业技术];

学科分类号：

08 ;

摘要：

For the first time, a supertip on a [111] W base tip has been self-imaged by field-ion microscopy with atomic resolution. It is a tiny crystalline protrusion of a few nm in diameter.

引用

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