CONVERGENT-BEAM ELECTRON-DIFFRACTION STUDY OF TRANSVERSE STACKING-FAULTS AND DISLOCATIONS

被引:21
作者
FUNG, KK
机构
关键词
D O I
10.1016/0304-3991(85)90001-4
中图分类号
TH742 [显微镜];
学科分类号
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