CRYSTAL OSCILLATOR FILM THICKNESS MONITOR

被引：12

作者：

MUGGLETON, AHF

HOWE, FA

机构：

来源：

NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS | 1964年 / 28卷 / 02期

关键词：

D O I：

10.1016/0029-554X(64)90429-X

中图分类号：

TH7 [仪器、仪表];

学科分类号：

0804 ; 080401 ; 081102 ;

摘要：

引用

页码：242 / 244

页数：3

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共 4 条

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