LATTICE DISTORTION INDUCED BY SCRATCHING ON SURFACE OF SILICON SINGLE-CRYSTAL WAFER

被引:6
作者
SUNADA, J [1 ]
机构
[1] CHIBA UNIV,FAC EDUC,CHIBA,JAPAN
关键词
D O I
10.1143/JJAP.13.1944
中图分类号
O59 [应用物理学];
学科分类号
摘要
引用
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页码:1944 / 1954
页数:11
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