THEORETICAL AND EXPERIMENTAL INVESTIGATIONS OF THE HETEROSTRUCTURE HOT-ELECTRON DIODE

被引：13

作者：

EMANUEL, MA ^{[1
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HIGMAN, TK ^{[1
]}

HIGMAN, JM ^{[1
]}

KOLODZEY, JM ^{[1
]}

COLEMAN, JJ ^{[1
]}

HESS, K ^{[1
]}

机构：

[1] UNIV ILLINOIS,NSF ENGN RES CTR COMPOUND SEMICOND MICROELECTR,URBANA,IL 61801

来源：

关键词：

D O I：

10.1016/0038-1101(88)90347-4

中图分类号：

TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];

学科分类号：

0808 ; 0809 ;

摘要：

引用

页码：589 / 592

页数：4

共 6 条

[1]

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[3]

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HIGMAN, TK ;

EMANUEL, MA ;

COLEMAN, JJ .

HIGMAN, TK ;

EMANUEL, MA ;

COLEMAN, JJ ;

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[6]

HIGMAN TK, IN PRESS J APPL PHYS