CHARGING PHENOMENA IN THE SCANNING ELECTRON-MICROSCOPY OF CONDUCTOR-INSULATOR COMPOSITES - A TOOL FOR COMPOSITE STRUCTURAL-ANALYSIS

被引:34
作者
CHUNG, KT
REISNER, JH
CAMPBELL, ER
机构
关键词
D O I
10.1063/1.331946
中图分类号
O59 [应用物理学];
学科分类号
摘要
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页码:6099 / 6112
页数:14
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