COMPARISON OF METHODS FOR SENSITIVITY DETERMINATION OF POINT-CONTACT DIODES AT SUBMILLIMETER WAVELENGTH

被引：14

作者：

SAUTER, E ^{[1
]}

SCHULTZ, GV ^{[1
]}

机构：

[1] MAX PLANCK INST RADIOASTRON,D-5300 BONN,FED REP GER

来源：

关键词：

D O I：

10.1109/TMTT.1977.1129135

中图分类号：

TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];

学科分类号：

0808 ; 0809 ;

摘要：

引用

页码：468 / 470

页数：3

共 7 条

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