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A TWO-DIMENSIONAL DIFFRACTION PATTERN SAMPLING SYSTEM FOR DETERMINING THE OPTIMUM PARAMETERS OF A MATCHED SPATIAL FILTER
被引:2
作者
:
JUTAMULIA, S
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0
JUTAMULIA, S
FUJII, H
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FUJII, H
ASAKURA, T
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ASAKURA, T
机构
:
来源
:
OPTICS AND LASER TECHNOLOGY
|
1983年
/ 15卷
/ 02期
关键词
:
D O I
:
10.1016/0030-3992(83)90099-3
中图分类号
:
O43 [光学];
学科分类号
:
070207 ;
0803 ;
摘要
:
引用
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页码:101 / 104
页数:4
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