FOURIER-TRANSFORMED COMPTON PROFILES - SENSITIVE PROBE FOR MICROSTRUCTURE OF SEMICONDUCTORS

被引：31

作者：

KRAMER, B ^{[1
]}

KRUSIUS, P ^{[1
]}

SCHRODER, W ^{[1
]}

SCHULKE, W ^{[1
]}

机构：

[1] UNIV DORTMUND,INST PHYS,D-4600 DORTMUND 50,FED REP GER

来源：

关键词：

D O I：

10.1103/PhysRevLett.38.1227

中图分类号：

O4 [物理学];

学科分类号：

0702 ;

摘要：

引用

页码：1227 / 1230

页数：4

共 7 条

[1] COMPTON PROFILES OF TRIGONAL AND AMORPHOUS SELENIUM [J].

BONSE, U ;

SCHRODER, W ;

SCHULKE, W .

[2]

Halonen V., 1975, Physica Fennica, V10, P107

[3]

KRAMER B, TO BE PUBLISHED

[4]

KRUSIUS P, TO BE PUBLISHED

PATTISON, P ;

WILLIAMS, B .

[6]

PATTISON P, TO BE PUBLISHED

[7]

UNGER P, 1967, PHYSICS SELENIUM TEL, P223