A 200 MU-M X-RAY MICROBEAM SPECTROMETER

被引：39

作者：

ENGSTROM, P ^{[1
]}

LARSSON, S ^{[1
]}

RINDBY, A ^{[1
]}

STOCKLASSA, B ^{[1
]}

机构：

[1] NATL LAB FORENS SCI,LINKOPING,SWEDEN

来源：

关键词：

D O I：

10.1016/0168-583X(89)90588-0

中图分类号：

TH7 [仪器、仪表];

学科分类号：

0804 ; 080401 ; 081102 ;

摘要：

引用

页码：222 / 226

页数：5

共 14 条

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