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NOISE MEASURE OF MICROWAVE TRANSISTORS
被引:1
作者
:
FUKUI, H
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
FUKUI, H
机构
:
来源
:
PROCEEDINGS OF THE INSTITUTE OF ELECTRICAL AND ELECTRONICS ENGINEERS
|
1966年
/ 54卷
/ 09期
关键词
:
D O I
:
10.1109/PROC.1966.5083
中图分类号
:
TM [电工技术];
TN [电子技术、通信技术];
学科分类号
:
0808 ;
0809 ;
摘要
:
引用
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页码:1204 / &
相关论文
共 4 条
[1]
FUKUI H, 1966, IEEE T CIRCUIT THEOR, VCT13, P137
[2]
FUKUI H, 1966, IEEE T, VED13, P329
[3]
FUKUI H, TO BE PUBLISHED
[4]
Haus H. A., 1959, CIRCUIT THEORY LINEA
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共 4 条
[1]
FUKUI H, 1966, IEEE T CIRCUIT THEOR, VCT13, P137
[2]
FUKUI H, 1966, IEEE T, VED13, P329
[3]
FUKUI H, TO BE PUBLISHED
[4]
Haus H. A., 1959, CIRCUIT THEORY LINEA
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