COMPUTERIZED IMAGING-SYSTEM FOR FIELD-ION MICROSCOPY

被引：7

作者：

SCHILLER, T

WEIGMANN, U

JAENICKE, S

BLOCK, JH

机构：

来源：

JOURNAL DE PHYSIQUE | 1986年 / 47卷 / C-2期

关键词：

D O I：

10.1051/jphyscol:1986273

中图分类号：

学科分类号：

摘要：

引用

页码：479 / 484

页数：6

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共 4 条

[1]

KELLOGG GL, 1981, SURF SCI, V110, pL599, DOI 10.1016/0039-6028(81)90579-3

[2]

MUELLER EW, 1969, FIELD ION MICROSCOPY, P146

[3]

SCHILLER T, 1985, THESIS TU BERLIN

WEIGMANN, U ;

JAENICKE, S ;

PITTS, R ;

DRACHSEL, W ;

BLOCK, JH .

JOURNAL DE PHYSIQUE, 1986, 47 (C-2) :145-149