UTILIZING SIDE INFORMATION IN EMISSION TOMOGRAPHY

被引：10

作者：

SNYDER, DL ^{[1
]}

机构：

[1] WASHINGTON UNIV,INST BIOMED COMP,ST LOUIS,MO 63130

来源：

关键词：

D O I：

10.1109/TNS.1984.4333313

中图分类号：

TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];

学科分类号：

0808 ; 0809 ;

摘要：

引用

页码：533 / 537

页数：5

共 9 条

[1]

COX JR, 1982, SPIE, V318, P132

[2] MAXIMUM LIKELIHOOD FROM INCOMPLETE DATA VIA EM ALGORITHM [J].

DEMPSTER, AP ;

LAIRD, NM ;

RUBIN, DB .

JOURNAL OF THE ROYAL STATISTICAL SOCIETY SERIES B-METHODOLOGICAL, 1977, 39 (01) :1-38

[3]

LANGE K, UNPUB J COMPUTER ASS

[4]

Luenberger D.G., 1997, OPTIMIZATION VECTOR

[5]

Shepp L A, 1982, IEEE Trans Med Imaging, V1, P113, DOI 10.1109/TMI.1982.4307558

SNYDER, DL ;

THOMAS, LJ ;

TERPOGOSSIAN, MM .

SNYDER, DL ;

POLITTE, DG .

[8]

Snyder DL., 1975, RANDOM POINT PROCESS

TANAKA, E .