LLOYD INTERFEROMETER APPLIED TO FLATNESS TESTING

被引：12

作者：

LANGENBECK, PH

机构：

来源：

关键词：

D O I：

10.1364/AO.6.001707

中图分类号：

O43 [光学];

学科分类号：

070207 ; 0803 ;

摘要：

引用

页码：1707 / +

页数：1

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共 4 条

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