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GYROTRON DEVELOPMENT AT THOMSON-CSF
被引:5
作者
:
BENSIMHON, A
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BENSIMHON, A
FAILLON, G
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FAILLON, G
GARIN, P
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GARIN, P
MOURIER, G
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MOURIER, G
机构
:
来源
:
INTERNATIONAL JOURNAL OF ELECTRONICS
|
1984年
/ 57卷
/ 06期
关键词
:
D O I
:
10.1080/00207218408938967
中图分类号
:
TM [电工技术];
TN [电子技术、通信技术];
学科分类号
:
0808 ;
0809 ;
摘要
:
引用
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页码:805 / 814
页数:10
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共 3 条
[1]
PRECISE MILLIMETER-WAVE MEASUREMENTS OF COMPLEX REFRACTIVE-INDEX, COMPLEX DIELECTRIC PERMITTIVITY AND LOSS TANGENT OF GAAS, SI, SIO2, AL2O3, BEO, MACOR, AND GLASS
[J].
AFSAR, MN
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AFSAR, MN
;
BUTTON, KJ
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BUTTON, KJ
.
IEEE TRANSACTIONS ON MICROWAVE THEORY AND TECHNIQUES,
1983,
31
(02)
:217
-223
[2]
DEVELOPMENT OF GYROTRONS AT THOMSON-CSF
[J].
BOULANGER, P
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MOURIER, G
.
INTERNATIONAL JOURNAL OF ELECTRONICS,
1982,
53
(06)
:523
-531
[3]
Carmel Y., 1982, International Electron Devices Meeting. Technical Digest, P372
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[1]
PRECISE MILLIMETER-WAVE MEASUREMENTS OF COMPLEX REFRACTIVE-INDEX, COMPLEX DIELECTRIC PERMITTIVITY AND LOSS TANGENT OF GAAS, SI, SIO2, AL2O3, BEO, MACOR, AND GLASS
[J].
AFSAR, MN
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AFSAR, MN
;
BUTTON, KJ
论文数:
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0
BUTTON, KJ
.
IEEE TRANSACTIONS ON MICROWAVE THEORY AND TECHNIQUES,
1983,
31
(02)
:217
-223
[2]
DEVELOPMENT OF GYROTRONS AT THOMSON-CSF
[J].
BOULANGER, P
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BOULANGER, P
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MOURIER, G
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0
MOURIER, G
.
INTERNATIONAL JOURNAL OF ELECTRONICS,
1982,
53
(06)
:523
-531
[3]
Carmel Y., 1982, International Electron Devices Meeting. Technical Digest, P372
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