ROBUSTNESS AND MODELING ERROR CHARACTERIZATION

被引：29

作者：

LEHTOMAKI, NA

CASTANON, DA

LEVY, BC

STEIN, G

SANDELL, NR

ATHANS, M

机构：

[1] ALPHATECH INC,BURLINGTON,MA 01803

[2] MIT,INFORMAT & DECIS SYST,CAMBRIDGE,MA 02139

来源：

关键词：

D O I：

10.1109/TAC.1984.1103510

中图分类号：

TP [自动化技术、计算机技术];

学科分类号：

0812 ;

摘要：

引用

页码：212 / 220

页数：9

共 11 条

[1]

CHAN SM, 1981, THESIS MASS I TECHNO

[2]

DOYLE JC, 1982, 21ST P C DEC CONTR

[3]

DOYLE JC, 1982, P IEE NOV

[4]

DOYLE JC, 1979, 1978 P IEEE C DEC CO

KLEMA, VC ;

LAUB, AJ .

[6]

LAUB AJ, 1979, IEEE T AUTOMAT CONTR, V24

[7]

LEHTOMAKI NA, 1981, 20TH P C DEC CONTR

[8]

LEHTOMAKI NA, 1981, THESIS MASS I TECHNO

[9]

LEHTOMAKI NA, 1981, IEEE T AUTOMAT CONTR, V26

[10]

LEWIS JB, 1980, THESIS MASS I TECHNO