DARK-FIELD STIGMATIC ION MICROSCOPY FOR STRUCTURAL CONTRAST ENHANCEMENT

被引：9

作者：

BERNIUS, MT ^{[1
]}

LING, YC ^{[1
]}

MORRISON, GH ^{[1
]}

机构：

[1] CORNELL UNIV,BAKER LAB CHEM,ITHACA,NY 14853

来源：

关键词：

D O I：

10.1063/1.337021

中图分类号：

O59 [应用物理学];

学科分类号：

摘要：

引用

页码：3332 / 3338

页数：7

相关论文

共 7 条

[1]

BENNINGHOVEN A, 1986, SECONDARY ION MASS S, V5

BERNIUS, MT ;

LING, YC ;

MORRISON, GH .

[3]

BOERSCH V, 1936, ANN PHYS LEIPZIG, V5, P631

[4]

LEPAREUR M, 1980, REV TECH THOMSON, V12, P225

[5]

MORRISON GH, 1975, ANAL CHEM, V47, pA932, DOI 10.1021/ac60361a006

[6]

PRATT WK, 1978, DIGITAL IMAGE PROCES, P479

[7]

WILSON SD, 1967, APPLIED EXPT MICROSC, P47