MICROSTRUCTURAL CHARACTERIZATION OF METALLIC OVERLAY COATINGS BY HIGH-RESOLUTION ANALYTICAL ELECTRON-MICROSCOPY

被引：7

作者：

MORRA, MM

BIEDERMAN, RR

SISSON, RD

机构：

来源：

关键词：

D O I：

10.1016/0040-6090(84)90262-1

中图分类号：

T [工业技术];

学科分类号：

08 ;

摘要：

引用

页码：383 / 394

页数：12

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