CHARACTERIZATION OF METALS AS EMC SHIELDS

被引：9

作者：

TRENKLER, Y

MCBRIDE, LE

机构：

来源：

IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT | 1987年 / 36卷 / 03期

关键词：

D O I：

10.1109/TIM.1987.6312793

中图分类号：

TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];

学科分类号：

0808 ; 0809 ;

摘要：

引用

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页码：810 / 814

页数：5

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共 4 条

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