STRUCTURAL EVALUATION OF GAAS/ALGAAS HETEROINTERFACES BY ATOMIC-RESOLUTION ELECTRON MICROGRAPH WITH CLEAR CONTRAST

被引:11
作者
FURUTA, T
SAKAKI, H
ICHINOSE, H
ISHIDA, Y
SONE, M
ONOE, M
机构
来源
JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS PART 2-LETTERS | 1984年 / 23卷 / 05期
关键词
D O I
10.1143/JJAP.23.L265
中图分类号
O59 [应用物理学];
学科分类号
摘要
引用
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页码:L265 / L267
页数:3
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