TECHNIQUE FOR MEASURING SPECTRAL DENSITY MATRIX OF 2 SIGNALS

被引：2

作者：

BRILLINGER, DR

机构：

来源：

PROCEEDINGS OF THE IEEE | 1964年 / 52卷 / 01期

关键词：

D O I：

10.1109/PROC.1964.2784

中图分类号：

TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];

学科分类号：

0808 ; 0809 ;

摘要：

引用

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页码：103 / &

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共 2 条

[1] AN ANALYZER FOR MEASURING WIENER COHERENCY MATRIX OF 2 SIGNALS [J].

PARKE, NG .

PROCEEDINGS OF THE IEEE, 1963, 51 (06) :951-&

[2]

UKEROI MS, 1959, REV SCI INSTR, V30, P176