TECHNIQUES FOR TESTING MICROCOMPUTER FAMILY

被引：14

作者：

BARRACLOUGH, W ^{[1
]}

CHIANG, ACL ^{[1
]}

SOHL, W ^{[1
]}

机构：

[1] MACRODATA CORP,WOODLAND HILLS,CA 91364

来源：

PROCEEDINGS OF THE IEEE | 1976年 / 64卷 / 06期

关键词：

D O I：

10.1109/PROC.1976.10246

中图分类号：

TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];

学科分类号：

0808 ; 0809 ;

摘要：

引用

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页码：943 / 950

页数：8

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CHIANG A, 1975, COMPUTER DESIGN APR

[2]

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[3]

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[4]

HUSTON R, 1974, SEMICONDUCTOR TEST S