IMPROVED ANTICONTAMINATOR FOR CRYO-ELECTRON MICROSCOPY WITH A PHILIPS EM-400

被引：46

作者：

HOMO, JC

BOOY, F

LABOUESSE, P

LEPAULT, J

DUBOCHET, J

机构：

来源：

JOURNAL OF MICROSCOPY-OXFORD | 1984年 / 136卷 / DEC期

关键词：

D O I：

10.1111/j.1365-2818.1984.tb00543.x

中图分类号：

TH742 [显微镜];

学科分类号：

摘要：

引用

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页码：337 / 340

页数：4

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