SPHERICAL ABERRATION MEASUREMENT WITH SHEARING INTERFEROMETER USING FOURIER IMAGING AND MOIRE METHOD

被引：28

作者：

YOKOZEKI, S ^{[1
]}

OHNISHI, K ^{[1
]}

机构：

[1] OSAKA UNIV,FAC ENGN,DEPT APPL PHYS,SUITA,OSAKA,JAPAN

来源：

APPLIED OPTICS | 1975年 / 14卷 / 03期

关键词：

D O I：

10.1364/AO.14.000623

中图分类号：

O43 [光学];

学科分类号：

070207 ; 0803 ;

摘要：

引用

页码：623 / 627

页数：5

共 6 条

[1]

Lohmann A. W., 1971, Optics Communications, V2, P413, DOI 10.1016/0030-4018(71)90055-1

[2]

Lohmann A. W., 1972, OPT COMMUN, V4, P326

[3]

SILVA DE, 1971, APPL OPTICS, V10, P1980

[4] TALBOT INTERFEROMETER FOR RADIAL AND LATERAL DERIVATIVES [J].

SILVA, DE .

APPLIED OPTICS, 1972, 11 (11) :2613-&

[5] SHEARING INTERFEROMETER USING GRATING AS BEAM SPLITTER [J].

YOKOZEKI, S ;

SUZUKI, T .

APPLIED OPTICS, 1971, 10 (07) :1575-&

[6]

YOKOZEKI S, 1971, APPL OPTICS, V10, P1690, DOI 10.1364/AO.10.001690