A THEORY OF THE HOOGE PARAMETERS OF SOLID-STATE DEVICES

被引：75

作者：

VANDERZIEL, A ^{[1
]}

HANDEL, PH ^{[1
]}

ZHU, XC ^{[1
]}

DUH, KH ^{[1
]}

机构：

[1] UNIV MISSOURI,DEPT PHYS,ST LOUIS,MO 63121

来源：

关键词：

D O I：

10.1109/T-ED.1985.21996

中图分类号：

TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];

学科分类号：

0808 ; 0809 ;

摘要：

引用

页码：667 / 671

页数：5

共 24 条

[1] FLICKER NOISE OF HOT-ELECTRONS IN SILICON AT T=78-K
BOSMAN, G
ZIJLSTRA, RJJ
VANRHEENEN, A
[J]. PHYSICS LETTERS A, 1980, 78 (04) : 385 - 386
[2] BROUDY RM, 1974, NASA CR132512 HON RA
[3] DUH KH, 1985, IEEE T ELECTRON DEV, V32, P662
[4] DUH KH, 1983, NOISE PHYSICAL SYSTE, P283
[5] GONG J, 1983, NOISE PHYSICAL SYSTE, P381
[6] HANAFI HI, 1978, PHYSICA B, V94, P798
[7] 1-F NOISE - INFRARED PHENOMENON
HANDEL, PH
[J]. PHYSICAL REVIEW LETTERS, 1975, 34 (24) : 1492 - 1495
[8] HANDEL PH, 1980, PHYS REV A, V22, P795
[9] HANDEL PH, 1983, NOISE PHYSICAL SYSTE, P97
[10] HANDEL PH, 1983, NOISE PHYSICAL SYSTE, P101