IMAGE-PROCESSING ENHANCEMENT OF HIGH-RESOLUTION TEM MICROGRAPHS OF NANOMETER-SIZE METAL PARTICLES

被引:17
作者
ARTAL, P
AVALOSBORJA, M
SORIA, F
POPPA, H
HEINEMANN, K
机构
[1] STANFORD UNIV,DEPT CHEM ENGN,STANFORD,CA 94305
[2] CSIC,INST CIENCIA MAT,E-28006 MADRID,SPAIN
[3] IBM CORP,ALMADEN RES CTR,SAN JOSE,CA 95120
[4] ELORET INST,SUNNYVALE,CA 94087
关键词
D O I
10.1016/0304-3991(89)90071-5
中图分类号
TH742 [显微镜];
学科分类号
摘要
引用
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页码:405 / 415
页数:11
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