ETUDE DUN APPAREILLAGE DESTINE A LA MESURE DE LEFFET MAGNETO-ELECTRIQUE ENTRE 1,8 DEGREES K ET 330 DEGREES K

被引：8

作者：

MERCIER, M

机构：

来源：

REVUE DE PHYSIQUE APPLIQUEE | 1967年 / 2卷 / 02期

关键词：

D O I：

10.1051/rphysap:0196700202010900

中图分类号：

O59 [应用物理学];

学科分类号：

摘要：

引用

页码：109 / &

共 20 条

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