CHARACTERIZATION OF ULTRAHIGH SURFACE-AREA TUNGSTEN CARBIDE

被引：7

作者：

FORNWALT, DE ^{[1
]}

FELTEN, EJ ^{[1
]}

STONEHART, P ^{[1
]}

机构：

[1] PRATT & WHITNEY AIRCRAFT,MAT ENGN & RES LAB,MIDDLETOWN,CT 06457

来源：

MICRON | 1975年 / 6卷 / 3-4期

关键词：

D O I：

10.1016/0047-7206(75)90019-9

中图分类号：

TH742 [显微镜];

学科分类号：

摘要：

引用

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页码：147 / 152

页数：6

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共 3 条

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