CRITICAL PHENOMENA IN SYSTEMS WITH RANDOM ANISOTROPIES

被引：18

作者：

AHARONY, A ^{[1
]}

机构：

[1] IBM CORP,THOMAS J WATSON RES CTR,YORKTOWN HTS,NY 10598

来源：

关键词：

D O I：

10.1016/0304-8853(83)90959-9

中图分类号：

T [工业技术];

学科分类号：

08 ;

摘要：

引用

页码：1432 / 1434

页数：3

共 34 条

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