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RAMAN CHARACTERIZATION OF ALL-DIELECTRIC MULTILAYER SIO2/TIO2 OPTICAL COATINGS
被引:11
作者
:
EXARHOS, GJ
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0
EXARHOS, GJ
PAWLEWICZ, WT
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PAWLEWICZ, WT
机构
:
来源
:
APPLIED OPTICS
|
1984年
/ 23卷
/ 12期
关键词
:
D O I
:
10.1364/AO.23.001986
中图分类号
:
O43 [光学];
学科分类号
:
070207 ;
0803 ;
摘要
:
引用
收藏
页码:1986 / 1988
页数:3
相关论文
共 2 条
[1]
PAWLEWICZ WT, 1982, P SOC PHOTO-OPT INST, V325, P105, DOI 10.1117/12.933293
[2]
STRUCTURAL CHARACTERIZATION OF TIO2 OPTICAL COATINGS BY RAMAN-SPECTROSCOPY
PAWLEWICZ, WT
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0
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0
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0
机构:
STANFORD UNIV,DEPT CHEM,STANFORD,CA 94305
STANFORD UNIV,DEPT CHEM,STANFORD,CA 94305
PAWLEWICZ, WT
EXARHOS, GJ
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STANFORD UNIV,DEPT CHEM,STANFORD,CA 94305
STANFORD UNIV,DEPT CHEM,STANFORD,CA 94305
EXARHOS, GJ
CONAWAY, WE
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机构:
STANFORD UNIV,DEPT CHEM,STANFORD,CA 94305
STANFORD UNIV,DEPT CHEM,STANFORD,CA 94305
CONAWAY, WE
[J].
APPLIED OPTICS,
1983,
22
(12):
: 1837
-
1840
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共 2 条
[1]
PAWLEWICZ WT, 1982, P SOC PHOTO-OPT INST, V325, P105, DOI 10.1117/12.933293
[2]
STRUCTURAL CHARACTERIZATION OF TIO2 OPTICAL COATINGS BY RAMAN-SPECTROSCOPY
PAWLEWICZ, WT
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机构:
STANFORD UNIV,DEPT CHEM,STANFORD,CA 94305
STANFORD UNIV,DEPT CHEM,STANFORD,CA 94305
PAWLEWICZ, WT
EXARHOS, GJ
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STANFORD UNIV,DEPT CHEM,STANFORD,CA 94305
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EXARHOS, GJ
CONAWAY, WE
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机构:
STANFORD UNIV,DEPT CHEM,STANFORD,CA 94305
STANFORD UNIV,DEPT CHEM,STANFORD,CA 94305
CONAWAY, WE
[J].
APPLIED OPTICS,
1983,
22
(12):
: 1837
-
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