RAMAN CHARACTERIZATION OF ALL-DIELECTRIC MULTILAYER SIO2/TIO2 OPTICAL COATINGS

被引：11

作者：

EXARHOS, GJ

PAWLEWICZ, WT

机构：

来源：

APPLIED OPTICS | 1984年 / 23卷 / 12期

关键词：

D O I：

10.1364/AO.23.001986

中图分类号：

O43 [光学];

学科分类号：

070207 ; 0803 ;

摘要：

引用

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页码：1986 / 1988

页数：3

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共 2 条

[1] PAWLEWICZ WT, 1982, P SOC PHOTO-OPT INST, V325, P105, DOI 10.1117/12.933293
[2] STRUCTURAL CHARACTERIZATION OF TIO2 OPTICAL COATINGS BY RAMAN-SPECTROSCOPY
PAWLEWICZ, WT
EXARHOS, GJ
CONAWAY, WE
[J]. APPLIED OPTICS, 1983, 22 (12): : 1837 - 1840