RAMAN CHARACTERIZATION OF ALL-DIELECTRIC MULTILAYER SIO2/TIO2 OPTICAL COATINGS

被引:11
作者
EXARHOS, GJ
PAWLEWICZ, WT
机构
来源
APPLIED OPTICS | 1984年 / 23卷 / 12期
关键词
D O I
10.1364/AO.23.001986
中图分类号
O43 [光学];
学科分类号
070207 ; 0803 ;
摘要
引用
收藏
页码:1986 / 1988
页数:3
相关论文
共 2 条
  • [1] PAWLEWICZ WT, 1982, P SOC PHOTO-OPT INST, V325, P105, DOI 10.1117/12.933293
  • [2] STRUCTURAL CHARACTERIZATION OF TIO2 OPTICAL COATINGS BY RAMAN-SPECTROSCOPY
    PAWLEWICZ, WT
    EXARHOS, GJ
    CONAWAY, WE
    [J]. APPLIED OPTICS, 1983, 22 (12): : 1837 - 1840