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ENHANCED PHOTOELECTRON EMISSION BETWEEN 200 AND 1300 A
被引:6
作者
:
SAMSON, JAR
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0
SAMSON, JAR
CAIRNS, RB
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CAIRNS, RB
机构
:
来源
:
REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS
|
1966年
/ 37卷
/ 03期
关键词
:
D O I
:
10.1063/1.1720174
中图分类号
:
TH7 [仪器、仪表];
学科分类号
:
0804 ;
080401 ;
081102 ;
摘要
:
引用
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页码:338 / &
相关论文
共 3 条
[1]
PHOTOELECTRIC YIELDS FOR OBLIQUE INCIDENCE OF EXTREME ULTRAVIOLET RADIATION
HEROUX, L
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HEROUX, L
MANSON, JE
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MANSON, JE
HINTEREGGER, HE
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HINTEREGGER, HE
[J].
JOURNAL OF THE OPTICAL SOCIETY OF AMERICA,
1965,
55
(01)
: 103
-
+
[2]
RUMSH MA, 1960, DOKL AKAD NAUK SSSR, V5, P1231
[3]
PHOTOELECTRIC YIELD OF ALUMINUM FROM 300 TO 1300 A
SAMSON, JAR
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SAMSON, JAR
CAIRNS, RB
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CAIRNS, RB
[J].
REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS,
1965,
36
(01)
: 19
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共 3 条
[1]
PHOTOELECTRIC YIELDS FOR OBLIQUE INCIDENCE OF EXTREME ULTRAVIOLET RADIATION
HEROUX, L
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HEROUX, L
MANSON, JE
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MANSON, JE
HINTEREGGER, HE
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HINTEREGGER, HE
[J].
JOURNAL OF THE OPTICAL SOCIETY OF AMERICA,
1965,
55
(01)
: 103
-
+
[2]
RUMSH MA, 1960, DOKL AKAD NAUK SSSR, V5, P1231
[3]
PHOTOELECTRIC YIELD OF ALUMINUM FROM 300 TO 1300 A
SAMSON, JAR
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SAMSON, JAR
CAIRNS, RB
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CAIRNS, RB
[J].
REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS,
1965,
36
(01)
: 19
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