A METHOD FOR INDEXING FIELD ION MICROGRAPHS

[1] ACCURATE DETERMINATION OF CRYSTAL ORIENTATION FROM FIELD ION MICROGRAPHS [J]. JOURNAL OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS, 1964, 41 (06): : 373 - &

[2] BRENNER SS, 1962, METAL SURFACES STRUC, P305

[3] DIE BESTIMMUNG DER POLARISIERBARKEIT VON ATOMEN UND MOLEKULEN MIT DEM FELDELEKTRONENMIKROSKOP [J]. ZEITSCHRIFT FUR PHYSIK, 1952, 132 (02): : 195 - 211

[4] DRECHSLER M, 1958, 4 INT C EL MICR

[5] Muller E. W., 1960, ADV ELECTRON, V13, P83, DOI 10.1016/S0065-2539(08)60210-3

[6] MULLER EW, 1958, 4 INT C EL MICR

[1] ACCURATE DETERMINATION OF CRYSTAL ORIENTATION FROM FIELD ION MICROGRAPHS [J]. JOURNAL OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS, 1964, 41 (06): : 373 - &

[2] BRENNER SS, 1962, METAL SURFACES STRUC, P305

[3] DIE BESTIMMUNG DER POLARISIERBARKEIT VON ATOMEN UND MOLEKULEN MIT DEM FELDELEKTRONENMIKROSKOP [J]. ZEITSCHRIFT FUR PHYSIK, 1952, 132 (02): : 195 - 211

[4] DRECHSLER M, 1958, 4 INT C EL MICR

[5] Muller E. W., 1960, ADV ELECTRON, V13, P83, DOI 10.1016/S0065-2539(08)60210-3

[6] MULLER EW, 1958, 4 INT C EL MICR