CHROMIUM-OXIDE FILM THICKNESS MEASUREMENTS USING SPONTANEOUS RAMAN-SCATTERING

被引：16

作者：

ENGLAND, WA

JENNY, SN

GREENHALGH, DA

机构：

来源：

关键词：

D O I：

10.1002/jrs.1250150305

中图分类号：

O433 [光谱学];

学科分类号：

0703 ; 070302 ;

摘要：

引用

页码：156 / 159

页数：4

共 6 条

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