HIGH-RESOLUTION DEPTH PROFILING OF F, NE AND NA IN MATERIALS

被引:46
作者
DECONNINCK, G
VANOYSTAEYEN, B
机构
来源
NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN PHYSICS RESEARCH | 1983年 / 218卷 / 1-3期
关键词
D O I
10.1016/0167-5087(83)90974-2
中图分类号
TH7 [仪器、仪表];
学科分类号
0804 ; 080401 ; 081102 ;
摘要
引用
收藏
页码:165 / 170
页数:6
相关论文
共 5 条