OPTIMAL TEST DESIGN FOR RELIABILITY DEMONSTRATION

被引：30

作者：

GAL, S ^{[1
]}

机构：

[1] IBM CORP,ISRAEL SCIENTIFIC CTR,HAIFA,ISRAEL

来源：

OPERATIONS RESEARCH | 1974年 / 22卷 / 06期

关键词：

D O I：

10.1287/opre.22.6.1236

中图分类号：

C93 [管理学];

学科分类号：

12 ; 1201 ; 1202 ; 120202 ;

摘要：

引用

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页码：1236 / 1242

页数：7

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共 3 条

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